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【応用情報技術者試験】テスト技法と評価 実践問題10問

実践問題

解答&解説は第1問から第10問までを列挙しています。
まず問題を解いてから解答&解説を見ることを推奨します。

第1問

ある入力項目の有効範囲が「1以上100以下」である。境界値分析で最も適切なテストデータの組合せはどれか。

A. 1, 50, 100
B. 0, 1, 2, 99, 100, 101
C. 0, 50, 101
D. 1, 2, 99, 100

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    第2問

    同値分割法の説明として最も適切なものはどれか。

    A. 条件分岐の真と偽の両方を実行する
    B. 入力データを同じ振る舞いをするグループに分けて代表値を選ぶ
    C. 境界付近の値を重点的に試験する
    D. 状態遷移の全経路を試験する

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      第3問

      次の条件分岐を分岐網羅(C1)するために必要な最小テストケース数はどれか。

      if (A > 0 && B > 0)
      X
      else
      Y

      A. 1
      B. 2
      C. 3
      D. 4

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        第4問

        ブラックボックステストに分類されるものはどれか。

        A. 命令網羅
        B. 分岐網羅
        C. 条件網羅
        D. 同値分割

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          第5問

          決定表(デシジョンテーブル)を用いる目的として最も適切なものはどれか。

          A. プログラムの命令実行率を測定する
          B. 条件の組合せ漏れを防ぐ
          C. 境界値付近の異常を検出する
          D. ソースコードの実行経路を網羅する

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            第6問

            状態遷移テストで重点的に確認する内容として最も適切なものはどれか。

            A. 変数のメモリ使用量
            B. 条件式の真偽の回数
            C. 状態間の遷移の妥当性
            D. 命令の実行回数

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              第7問

              次のうち、命令網羅(C0)について正しい説明はどれか。

              A. 全ての条件の真偽を確認する
              B. 全ての分岐の真偽を確認する
              C. 全ての命令を少なくとも1回実行する
              D. 全ての経路を少なくとも1回実行する

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                第8問

                あるプログラムの分岐数が8で、そのうち6つの分岐について真・偽の両方が実行された。分岐網羅率として最も適切なものはどれか。

                A. 37.5%
                B. 50%
                C. 75%
                D. 150%

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                  第9問

                  テストの進行に伴う信頼度成長曲線の説明として最も適切なものはどれか。

                  A. テストが進むほど欠陥発見数は増加し続ける
                  B. テストが進むほど欠陥発見数は減少する傾向にある
                  C. テストが進んでも欠陥発見数は一定である
                  D. テストが進むほど分岐数が増加する

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                    第10問

                    入力値が「0以上999以下」の整数であるとき、同値分割による有効同値クラスとして適切なものはどれか。

                    A. 0未満
                    B. 0以上999以下
                    C. 999より大きい
                    D. 0, 999 のみ

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                      解答&解説

                      解答:第1問

                      正解:B

                      解説:
                      境界値分析では、境界値そのものとその前後を試験します。
                      有効範囲が1〜100なので、0・1・2・99・100・101が適切です。

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                      解答:第2問

                      正解:B

                      解説:
                      同値分割法は、同じ結果になる入力群をグループ化し、その代表値をテストします。
                      テスト件数を効率化するのが目的です。

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                      解答:第3問

                      正解:B

                      解説:
                      分岐網羅(C1)は、条件全体の真と偽を最低1回ずつ通せばよいです。

                      • A=1, B=1 → 真
                      • A=0, B=1 → 偽

                      最小2ケースです。

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                      解答:第4問

                      正解:D

                      解説:
                      同値分割は仕様・入出力に着目するのでブラックボックステストです。
                      命令網羅、分岐網羅、条件網羅はホワイトボックスです。

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                      解答:第5問

                      正解:B

                      解説:
                      決定表は、複数条件の組合せを整理し、条件漏れ・組合せ漏れを防ぐために用います。

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                      解答:第6問

                      正解:C

                      解説:
                      状態遷移テストは、状態から状態への遷移が正しいか、不正遷移がないかを確認します。

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                      解答:第7問

                      正解:C

                      解説:
                      命令網羅(C0)は、すべての命令を少なくとも1回実行することです。
                      分岐の真偽までは要求しません。

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                      解答:第8問

                      正解:C

                      解説:
                      分岐網羅率 = 実施した分岐数 ÷ 全分岐数

                      6 ÷ 8 × 100 = 75%

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                      解答:第9問

                      正解:B

                      解説:
                      初期は多くの欠陥が見つかりますが、テストが進むにつれて残存欠陥が減り、発見数も減少する傾向があります。

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                      解答:第10問

                      正解:B

                      解説:
                      有効同値クラスとは、仕様上有効な入力群です。
                      ここでは 0以上999以下 が有効同値クラスです。

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                      試験でよく出る重要ポイント

                      • 同値分割:グループ化
                      • 境界値分析:境目重視
                      • C0:命令
                      • C1:分岐
                      • 決定表:条件の組合せ
                      • 状態遷移:状態の移り変わり

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